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http://hdl.handle.net/10553/118288
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | Cabrera Peña, José María | es |
| dc.contributor.advisor | Yánez Alemán, Joseé Aythami | es |
| dc.contributor.author | Betancor Santiago, Hector | es |
| dc.date.accessioned | 2022-09-18T20:02:54Z | - |
| dc.date.available | 2022-09-18T20:02:54Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.other | Gestión académica | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10553/118288 | - |
| dc.title | Automatización Del Proceso De Medida De La Densidad A Alta Presión | es |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis | |
| dc.type | BachelorThesis | |
| dc.contributor.departamento | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | es |
| dc.type2 | Trabajo final de grado | |
| dc.identifier.matricula | TFT-70493 | es |
| dc.identifier.ulpgc | Sí | |
| dc.contributor.buulpgc | BU-TEL | es |
| dc.contributor.titulacion | Grado en Ingeniería Electrónica Industrial y Automática | es |
| item.grantfulltext | none | - |
| item.fulltext | Sin texto completo | - |
| crisitem.advisor.dept | GIR IUMA: Sistemas de Información y Comunicaciones | - |
| crisitem.advisor.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
| crisitem.advisor.dept | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | - |
| Appears in Collections: | Trabajo final de grado | |
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