Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10553/116865
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorPulido Alonso, Antonioen_US
dc.date.accessioned2022-07-13T10:04:28Z-
dc.date.available2022-07-13T10:04:28Z-
dc.date.issued2002en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/116865-
dc.languagespaen_US
dc.subject3306 Ingeniería y tecnología eléctricasen_US
dc.subject320403 Salud profesionalen_US
dc.titleSeguridad en instalaciones de B.T.en_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/lectureen_US
dc.typeLectureen_US
dc.relation.conferenceIV Jornadas de Fiabilidad.en_US
dc.relation.volumeIVen_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Ponenciaen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-INGen_US
dc.contributor.buulpgcBU-INGen_US
dc.contributor.buulpgcBU-INGen_US
dc.contributor.buulpgcBU-INGen_US
item.fulltextSin texto completo-
item.grantfulltextnone-
crisitem.author.deptGIR SIANI: Computación Evolutiva y Aplicaciones-
crisitem.author.deptIU Sistemas Inteligentes y Aplicaciones Numéricas-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Eléctrica-
crisitem.author.orcid0000-0002-3406-5086-
crisitem.author.parentorgIU Sistemas Inteligentes y Aplicaciones Numéricas-
crisitem.author.fullNamePulido Alonso, Antonio-
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