Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/10553/116865
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Pulido Alonso, Antonio | en_US |
| dc.date.accessioned | 2022-07-13T10:04:28Z | - |
| dc.date.available | 2022-07-13T10:04:28Z | - |
| dc.date.issued | 2002 | en_US |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10553/116865 | - |
| dc.language | spa | en_US |
| dc.subject | 3306 Ingeniería y tecnología eléctricas | en_US |
| dc.subject | 320403 Salud profesional | en_US |
| dc.title | Seguridad en instalaciones de B.T. | en_US |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/lecture | en_US |
| dc.type | Lecture | en_US |
| dc.relation.conference | IV Jornadas de Fiabilidad. | en_US |
| dc.relation.volume | IV | en_US |
| dc.investigacion | Ingeniería y Arquitectura | en_US |
| dc.type2 | Ponencia | en_US |
| dc.utils.revision | Sí | en_US |
| dc.identifier.ulpgc | Sí | en_US |
| dc.contributor.buulpgc | BU-ING | en_US |
| dc.contributor.buulpgc | BU-ING | en_US |
| dc.contributor.buulpgc | BU-ING | en_US |
| dc.contributor.buulpgc | BU-ING | en_US |
| item.grantfulltext | none | - |
| item.fulltext | Sin texto completo | - |
| crisitem.author.dept | GIR SIANI: Computación Evolutiva y Aplicaciones | - |
| crisitem.author.dept | IU Sistemas Inteligentes y Aplicaciones Numéricas | - |
| crisitem.author.dept | Departamento de Ingeniería Eléctrica | - |
| crisitem.author.orcid | 0000-0002-3406-5086 | - |
| crisitem.author.parentorg | IU Sistemas Inteligentes y Aplicaciones Numéricas | - |
| crisitem.author.fullName | Pulido Alonso, Antonio | - |
| Appears in Collections: | Ponencias | |
Items in accedaCRIS are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.