Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/110922
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorMiranda-Rodríguez, Albertoen_US
dc.contributor.authorAraña Pulido, Víctor A.en_US
dc.contributor.authorDéniz-Suárez, Antonioen_US
dc.contributor.authorDorta-Naranjo, B. Pabloen_US
dc.date.accessioned2021-07-21T07:38:22Z-
dc.date.available2021-07-21T07:38:22Z-
dc.date.issued1995en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/110922-
dc.description.abstractIf we were to teach a group of students the characteristics of device modeling, we could miss a practical process to obtain the different elements of the model. However, the instruments we would need to get our aim could reach a quite high price. Besides, there is a high risk of break down due to students lack of experience. That is why it has been designed a measurement system which will not reach a very high cost and will, on the other hand, increase is own safetyen_US
dc.languageengen_US
dc.sourceProceedings of 25th European Microwave Conferenceen_US
dc.subject3325 Tecnología de las telecomunicacionesen_US
dc.titleLow cost system for transistor modelingen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceobjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conference1995 25th European Microwave Conferenceen_US
dc.description.lastpage793en_US
dc.description.firstpage789en_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.date.coverdate09/1995en_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
item.grantfulltextopen-
item.fulltextCon texto completo-
crisitem.author.deptGIR IDeTIC: División de Ingeniería de Comunicaciones-
crisitem.author.deptIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.deptDepartamento de Señales y Comunicaciones-
crisitem.author.deptGIR IDeTIC: División de Ingeniería de Comunicaciones-
crisitem.author.deptIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.deptDepartamento de Señales y Comunicaciones-
crisitem.author.orcid0000-0002-5919-9224-
crisitem.author.orcid0000-0002-9994-0646-
crisitem.author.parentorgIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.parentorgIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.fullNameAraña Pulido, Víctor Alexis-
crisitem.author.fullNameDorta Naranjo, Blas Pablo-
Colección:Actas de congresos
Adobe PDF (4,42 MB)
Vista resumida

Visitas

64
actualizado el 03-ago-2024

Descargas

98
actualizado el 03-ago-2024

Google ScholarTM

Verifica


Comparte



Exporta metadatos



Los elementos en ULPGC accedaCRIS están protegidos por derechos de autor con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.