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Melián, J. A.Herrera ; Araña, J. ; Ortega Méndez, José Alejandro ; Martín Muñoz, Francisco José ; Rendón, E. Tello , et al Issued date: 2008 Source: Journal of Solar Energy Engineering, Transactions of the ASME [ISSN 0199-6231], v. 130, p. 0410031-0410037 JCR: 0,662 - Q3 SCIE Artículo |
Arana, J. ; Herrera Melian, J. A. ; Ortega Méndez, José Alejandro ; Macías Sánchez, J. I.; Pérez Peña, J. Issued date: 2008 Source: Journal Of Advanced Oxidation Technologies [ISSN 1203-8407], v. 11 (2), p. 292-299 JCR: 0,495 - Q4 Artículo |
Melián, J. A.Herrera ; Ortega Méndez, José Alejandro ; Araña, J. ; Díaz, O. González ; Rendón, E. Tello Issued date: 2008 Source: Process Biochemistry [ISSN 1359-5113], v. 43, p. 1432-1435 JCR: 2,414 - Q1 SCIE Artículo |
Araña Mesa, Francisco Javier ; Garriga i Cabo, C.; Fernández Rodríguez, Cristina ; Herrera Melián, José Alberto ; Ortega Méndez, José Alejandro , et al Issued date: 2008 Source: Chemosphere [ISSN 0045-6535], v. 71 (4), p. 788-794 JCR: 3,054 - Q1 SCIE Artículo |
Ortega-Méndez, J. A. ; Melián, J. A.Herrera ; Araña, J. ; Doña Rodríguez, José Miguel ; Díaz, O. González , et al Issued date: 2015 Source: Applied Catalysis B: Environmental [ISSN 0926-3373], v. 163, p. 63-73 SJR: 2,26 - Q1 JCR: 8,328 - Q1 SCIE Artículo |
Torres, Guillermo F.; Ortega Méndez, J. A. ; Tinoco, Diana L.; Marin, Enrique D.; Araña, J. , et al Issued date: 2016 Source: Desalination and Water Treatment [ISSN 1944-3994], v. 57 (51), p. 24288-24298 SJR: 0,343 - Q2 JCR: 1,631 - Q2 SCIE Artículo |
Ortega Méndez, José Alejandro ; Herrera Melián, José Alberto ; Araña Mesa, Francisco Javier ; Espino-Estévez, María Rocío; Doña Rodríguez, José Miguel Issued date: 2017 Source: Chemical Engineering and Technology [ISSN 0930-7516], v. 40 (6), p. 1165-1175 SJR: 0,493 - Q2 JCR: 1,588 - Q3 SCIE Artículo |
Herrera-Melián, José Alberto ; Borreguero-Fabelo, Alejandro; Araña, J. ; Peñate-Castellano, Nestor; Ortega-Méndez, José Alejandro Issued date: 2018 Source: Water (Switzerland) [ISSN 2073-4441], v. 10 (39) SJR: 0,67 - Q1 JCR: 2,524 - Q2 SCIE Artículo |