Cacereño Ibáñez, Andrés

Refined By:
Structure:  departamento de ingeniería electrónica y automática

Talavera, Alejandro; Aguasca, Ricardo ; Galván, Blas; Cacereño, Andrés 
Issued date: 2013
Source: Reliability Engineering and System Safety[ISSN 0951-8320],v. 111, p. 95-105
SJR: 1,381
- Q1
JCR: 2,048
- Q1
SCIE
Artículo