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Vega Martínez, Aurelio

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Departamento: iu de microelectrónica aplicada

Departamento: gir iuma: sistemas de información y comunicaciones

Tipo: actas de congresos

Departamento: gir iuma: tecnología microelectrónica

Título Año
Automatic lab system for optical, electrical, and thermal inspection of PCBs Vega García, Carlos ; Vega Martínez, Aurelio ; Merino Fernández, Irene ; Pérez Báez, Oscar Fecha de publicación: 2022 DOI: 10.1109/TAEE54169.2022.9840735 Localización: 2022 Congreso de Tecnología, Aprendizaje y Enseñanza de la Electrónica (XV Technologies Applied to Electronics Teaching Conference) Actas de congresos
DC characteristics with substrate temperature for GaN on Si MOS-HEMTs Rodriguez, R. ; Gonzalez, B. ; Garcia, J. ; Vega Martínez, Aurelio ; Nunez, A. Fecha de publicación: 2017 DOI: 10.1109/CDE.2017.7905214 Localización: 2017 Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2017 (7905214) Actas de congresos

Vega García, Carlos ; Vega Martínez, Aurelio ; Merino Fernández, Irene ; Pérez Báez, Oscar

Fecha de publicación: 2022

DOI: 10.1109/TAEE54169.2022.9840735

Localización: 2022 Congreso de Tecnología, Aprendizaje y Enseñanza de la Electrónica (XV Technologies Applied to Electronics Teaching Conference)

Actas de congresos

Rodriguez, R. ; Gonzalez, B. ; Garcia, J. ; Vega Martínez, Aurelio ; Nunez, A.

Fecha de publicación: 2017

DOI: 10.1109/CDE.2017.7905214

Localización: 2017 Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2017 (7905214)

Actas de congresos