Ortega Trujillo,Sebastián Eleazar

Ku, Tao; Veltkamp, Remco C.; Boom, Bas; Duque-Arias, David; Velasco-Forero, Santiago, et al.
Fecha de publicación: 2020
Localización: Computers and Graphics [ISSN 0097-8493], v. 93, p. 13-24, (Diciembre 2020)
SJR: 0,344
- Q2
JCR: 1,936
- Q3
SCIE
Artículo
Ortega Trujillo, Sebastián Eleazar ; Trujillo Pino, Agustín Rafael ; Santana, José M. ; Suárez Rivero, José Pablo ; Santana Almeida, Jaisiel A.
Fecha de publicación: 2019
Localización: ISPRS Journal of Photogrammetry and Remote Sensing [ISSN 0924-2716], v. 152, p. 24-33
SJR: 3,122
- Q1
JCR: 7,319
- Q1
SCIE
Artículo
Ortega Trujillo, Sebastián Eleazar ; Wendel, Jochen; Santana, José M. ; Murshed, Syed Monjur; Boates, Isaac, et al.
Fecha de publicación: 2019
Localización: ISPRS International Journal of Geo-Information [ISSN 2220-9964], v. 8 (3), p. 152
SJR: 0,655
- Q1
JCR: 2,239
- Q3
SCIE
Artículo
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Fernández, Pablo; Santana, José Miguel ; Ortega, Sebastián ; Trujillo, Agustín ; Suárez, José Pablo , et al.
Fecha de publicación: 2016
Localización: Sensors (Switzerland) [ISSN 1424-8220], v. 16 (417)
SJR: 0,576
- Q1
JCR: 2,677
- Q3
SCIE
Artículo
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