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Peñate, Y.; Guillermo, N.; Melwani Melwani, Pritti Mohan ; Borrego Hernando, Leopoldo Fecha de publicación: 2008 Localización: Actas Dermo-Sifiliograficas [ISSN 0001-7310], v. 99, p. 739-740 Sello FECYT ESCI Comentario |
Melwani, Priti Mohan ; Peñate, Yeray; Guillermo, Noemi; Soler, Elena; Hernández-Machín, Buenaventura, et al. Fecha de publicación: 2009 Localización: Archives of Dermatology [ISSN 0003-987X], v. 145, p. 1224-1226 JCR: 4,76 - Q1 Artículo |
Peñate, Yeray; Guillermo, Noemi; Melwani Melwani, Pritti Mohan ; Martel, Rosa; Borrego Hernando, Leopoldo Fecha de publicación: 2009 Localización: Dermatology [ISSN 1018-8665], v. 219, p. 225-231 JCR: 2,741 - Q2 SCIE Artículo |
Peñate, Yeray; Guillermo, Noemi; Melwani Melwani, Pritti Mohan ; Martel, Rosa; Hernández-Machín, Buenaventura, et al. Fecha de publicación: 2009 Localización: Journal of the American Academy of Dermatology [ISSN 0190-9622], v. 60, p. 1076-1077 JCR: 4,105 - Q1 SCIE Comentario |
Rodríguez López, J.; Melwani, P. ; Sanz Peláez, Óscar ; Pérez Arellano, José Luis Fecha de publicación: 2010 Localización: Medicine: Programa de Formación Médica Continuada Acreditado [ISSN 0304-5412], v. 10 (55), p. 3785-3789 Artículo |
Melwani Melwani, Pritti Mohan ; Parsons, Amy C.; Sangueza, Omar P. Fecha de publicación: 2010 Localización: American Journal of Dermatopathology [ISSN 0193-1091], v. 32, p. 565-567 JCR: 1,263 - Q3 SCIE Artículo |
Martel, R. M.; Melwani Melwani, Pritti Mohan ; Islas, D.; Peñate, Y.; Borrego Hernando, Leopoldo Fecha de publicación: 2010 Localización: Actas dermo-sifiliográficas, v. 101, p. 415-420 Sello FECYT ESCI Artículo |
Rodríguez López, J.; Melwani Melwani, Pritti Mohan ; Sanz Peláez, Óscar ; Pérez Arellano, José Luis Fecha de publicación: 2010 Localización: Medicine [ISSN 0304-5412], v. 10, p. 3785-3789 Artículo |
Melwani Melwani, Pritti Mohan ; Hernández-Machín, Buenaventura; Borrego Hernando, Leopoldo ; Peñate, Yeray Fecha de publicación: 2011 Localización: Journal of the American Academy of Dermatology [ISSN 0190-9622], v. 65 SJR: 1,664 - Q1 JCR: 3,991 - Q1 SCIE Artículo |