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Sosa González, Carlos Javier ; Real-Arce, Daniel Alcaraz; Bautista, Tomás ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Garcia-Alonso Montoya, Santiago , et al. Fecha de publicación: 2013 Localización: Engineering Computations (Swansea, Wales)[ISSN 0264-4401],v. 30 (17099247), p. 1170-1192 SJR: 0,516 - Q1 JCR: 1,206 - Q2 SCIE Artículo |
Monzón-Verona, José Miguel ; Garcia-Alonso Montoya, Santiago ; Sosa, Javier ; Montiel-Nelson, Juan A. Fecha de publicación: 2013 Localización: Engineering Computations (Swansea, Wales)[ISSN 0264-4401],v. 30 (17099245), p. 1128-1146 SJR: 0,516 - Q1 JCR: 1,206 - Q2 SCIE Artículo |
Fernández, E.; Beriain, A.; Solar, H.; Rebollo, I.; García-Alonso, A., et al. Fecha de publicación: 2012 Localización: Microelectronics [ISSN 0026-2692], v. 43 (10), p. 708-713, (Octubre 2012) JCR: 0,912 - Q3 SCIE Artículo |
Monzón-Verona, José Miguel ; Santana-Martín, Francisco Jorge; Garcia-Alonso Montoya, Santiago ; Montiel-Nelson, Juan Antonio Fecha de publicación: 2010 Localización: Sensors (Switzerland)[ISSN 1424-8220],v. 10, p. 9102-9117 JCR: 1,774 - Q3 SCIE Artículo |