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Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Ortega Sarmiento, Samuel ; Zbigniew Szolna,Adam ; Bulters, Diederik; Piñeiro, Juan F., et al. Fecha de publicación: 2019 Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 7, p. 39098 - 39116 SJR: 0,775 - Q1 JCR: 3,745 - Q1 SCIE Artículo |