Santana Cedres, Daniel Elias ; Gómez Déniz, Luis ; Trujillo Pino, Agustín Rafael ; Alemán Flores, Miguel ; Deriche, Rachid, et al. Fecha de publicación: 2019 Localización: IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters [ISSN 1545-598X], v. 16(7), p. 1165-1169 SJR: 1,497 - Q1 JCR: 3,833 - Q1 SCIE Artículo |
Santana Cedres, Daniel Elias ; Gomez, Luis ; Alvarez, Luis ; Frery, Alejandro C. Fecha de publicación: 2020 Localización: IEEE Geoscience And Remote Sensing Letters [ISSN 1545-598X], v. 17 (2), p. 357-361, (Febrero 2020) SJR: 1,372 - Q1 JCR: 3,966 - Q1 SCIE Artículo |