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Leon, Jaime; Dominguez, Evelia; Nunez, Juan L. ; Perez, Araceli; Martin-Albo, Jose Issued date: 2011 Source: Anales De Psicologia[ISSN 0212-9728],v. 27 (2), p. 405-411 SJR: 0,268 - Q3 JCR: 0,568 - Q3 Sello FECYT SSCI SCIE ERIH PLUS Artículo |
León, Jaime ; Domínguez, Evelia G.; Núñez, Juan L. ; Pérez, Araceli; Martin-Albo Lucas,José Issued date: 2011 Source: Anales de psicología [ISSN 0212-9728],v. 27 (2), p. 405-411 SJR: 0,268 - Q3 JCR: 0,568 - Q3 Sello FECYT SSCI SCIE ERIH PLUS Artículo |
Arnáiz Castro, Patricia ; Guillén García, Félix Issued date: 2013 Source: Anales de Psicologia[ISSN 0212-9728],v. 29, p. 335-344 SJR: 0,338 - Q3 JCR: 0,549 - Q3 Sello FECYT SSCI SCIE ERIH PLUS Artículo |
Martín Quintana, Juan Carlos ; Cabrera Casimiro, Eduardo; León González-Vélez, Jaime José ; Rodrigo López, María José Issued date: 2013 Source: Anales de psicología [ISSN 0212-9728], v. 29 (3), p. 886-896 SJR: 0,338 - Q3 JCR: 0,549 - Q3 Sello FECYT SSCI SCIE ERIH PLUS Artículo |
Martín-Albo Lucas, José; González Cutre, David; Núñez, Juan L. Issued date: 2014 Source: Anales de Psicologia[ISSN 0212-9728],v. 30, p. 267-277 SJR: 0,334 - Q3 JCR: 0,504 - Q3 Sello FECYT SSCI SCIE ERIH PLUS Artículo |
Alemán Ruiz, Iván; Calvo-Francés, Fernando Issued date: 2017 Source: Anales de Psicologia[ISSN 0212-9728],v. 33, p. 168-179 SJR: 0,402 - Q3 JCR: 0,756 - Q4 Sello FECYT SSCI SCIE - D2 - Q1 Dialnet: 1,319 ERIH PLUS Artículo |
Roman Martinez-Alvarado, Julio; Guillén García, Félix ; Aguiar Palacios, Luis Horacio; Gabriela Magallanes, Ana; Fernandez Ruiz, Pedro, et al Issued date: 2019 Source: Anales De Psicologia[ISSN 0212-9728],v. 35 (2), p. 341-349 SJR: 0,441 - Q2 JCR: 1346,0 - Q3 Sello FECYT SSCI SCIE FECYT: 93,82 - D2 - Q1 Dialnet: 1,596 - Q1 ERIH PLUS Artículo |
Moreno-Murcia, Juan Antonio; Huéscar Hernández, Elisa; León González-Vélez, Jaime José ; Fin, Gracielle; Nodari Júnior, Rudy José, et al Issued date: 2024 Source: Anales de Psicologia [ISSN 0212-9728], v. 40 (2), p. 265-271, (Mayo 2024) SJR: 0,457 - Q3 JCR: 1,7 - Q3 Sello FECYT SSCI SCIE MIAR ICDS: 11,0 ERIH PLUS Artículo |