Skip navigation
ESPAÑOL
ENGLISH
Statistics
About accedaCRIS
Help
Login
Menu
Publications
Research
Academic
Theses
Patents
ULPGC Journals
ULPGC Conferences
ULPGC Videos
ULPGC Datasets
Researchers
Organization
Fundings
En todo el portal
Publicaciones Investigación
Publicaciones Académicas
Tesis
Proyectos
Patentes
Personal Investigador
Organización
Revistas
Name IEEE Transactions on Electron Devices
View Statistics
Email Alert
RSS Feed
Detalles
Publicaciones
Publicaciones
Show/Hide filters
By researcher
1
gonzález pérez, benito
By affiliation
1
departamento de ingeniería electrónica y automática
1
gir iuma: sistemas de información y comunicaciones
1
gir iuma: tecnología microelectrónica
Close filters
Refined By:
Type:
artículo
Researcher:
cabrera peña, josé maría
Structure:
iu de microelectrónica aplicada
Show/Hide filters
Select All
Refman
EndNote
Bibtex
RefWorks
CSV
Excel
Send via email
Title
Issue Date
Gate Length-Dependent Thermal Impedance Characterization of PD-SOI MOSFETs
González Pérez, Benito
; Cabrera Peña, José María
; Lazaro, Antonio
Issued date: 2022
DOI:
10.1109/TED.2021.3132854
Source:
IEEE Transactions on Electron Devices [ISSN 0018-9383], v. 69 (2), p. 469-474, (Febrero 2022)
SJR:
0,773
-
Q2
JCR:
3,1
-
Q2
SCIE
MIAR ICDS:
11,0
Artículo