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Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/47681
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorTuia, Devisen_US
dc.contributor.authorLopez, Sebastianen_US
dc.contributor.authorSchaepman, Michaelen_US
dc.contributor.authorChanussot, Jocelynen_US
dc.date.accessioned2018-11-23T15:32:23Z-
dc.date.available2018-11-23T15:32:23Z-
dc.date.issued2015en_US
dc.identifier.issn1939-1404en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/47681-
dc.languageengen_US
dc.publisher1939-1404-
dc.relation.ispartofIEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensingen_US
dc.sourceIEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing[ISSN 1939-1404],v. 8 (7159020), p. 2337-2340en_US
dc.subject3307 Tecnología electrónicaen_US
dc.titleForeword to the special issue on hyperspectral image and signal processingen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/annotationen_US
dc.typeArticleen_US
dc.identifier.doi10.1109/JSTARS.2015.2452732-
dc.identifier.scopus85027937817-
dc.identifier.isi000359264000001-
dc.contributor.authorscopusid15766793800-
dc.contributor.authorscopusid57187722000-
dc.contributor.authorscopusid7004580125-
dc.contributor.authorscopusid6602159365-
dc.description.lastpage2340en_US
dc.identifier.issue7159020-
dc.description.firstpage2337en_US
dc.relation.volume8en_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Comentarioen_US
dc.contributor.daisngid202587-
dc.contributor.daisngid465777-
dc.contributor.daisngid100147-
dc.contributor.daisngid39568-
dc.utils.revisionSíen_US
dc.contributor.wosstandardWOS:Tuia, D-
dc.contributor.wosstandardWOS:Lopez, S-
dc.contributor.wosstandardWOS:Schaepman, M-
dc.contributor.wosstandardWOS:Chanussot, J-
dc.date.coverdateJunio 2015en_US
dc.identifier.ulpgcSíes
dc.description.sjr1,548
dc.description.jcr2,145
dc.description.sjrqQ1
dc.description.jcrqQ1
dc.description.scieSCIE
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0002-2360-6721-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameLópez Suárez, Sebastián Miguel-
Colección:Comentario
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