Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/41405
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dc.contributor.advisorSanjuán Hernán-Pérez, Alejandra-
dc.contributor.advisorSuárez Rivero, José Pablo-
dc.contributor.authorAbad Real, María Pilar-
dc.date.accessioned2018-06-27T15:26:20Z-
dc.date.available2018-06-27T15:26:20Z-
dc.date.issued2005en_US
dc.identifier.isbn978-84-691-7011-3en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/41405-
dc.descriptionPrograma de doctorado: Matemática Pura y Aplicadaen_US
dc.formatapplication/pdfes
dc.languagespaen_US
dc.rightsby-nc-ndes
dc.sourcePrograma de Doctorado en Matemática pura y aplicadaes
dc.subject12 Matemáticasen_US
dc.subject1202 Análisis y análisis funcionalen_US
dc.subject.otherEcuaciones diferenciales no linealesen_US
dc.subject.otherEcuaciones diferenciales linealesen_US
dc.titleReducción del número de condición y deficiencia de rango en los sistemas de ecuaciones asociados a las observaciones de satélitesen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisen_US
dc.typeThesisen_US
dc.typeThesisen_US
dc.typeThesisen_US
dc.compliance.driver1es
dc.contributor.departamentoDepartamento de Matemáticasen_US
dc.contributor.facultadEscuela de Ingeniería Informáticaen_US
dc.identifier.absysnet545866es
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.type2Tesis doctoralen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.identifier.matriculaTESIS-73558es
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.programaMatemática Pura Y Aplicadaes
item.grantfulltextopen-
item.fulltextCon texto completo-
crisitem.author.deptDepartamento de Cartografía y Expresión Gráfica en La Ingeniería-
crisitem.author.fullNameAbad Real, María Pilar-
crisitem.advisor.deptGIR IDeTIC: División de Fotónica y Comunicaciones-
crisitem.advisor.deptIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.advisor.deptDepartamento de Cartografía y Expresión Gráfica en La Ingeniería-
crisitem.advisor.deptGIR IUMA: Matemáticas, Gráficos y Computación-
crisitem.advisor.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.advisor.deptDepartamento de Cartografía y Expresión Gráfica en La Ingeniería-
Colección:Tesis doctoral
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