Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10553/21452
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorMontiel Nelson, Juan Antonio-
dc.contributor.authorSosa González, Juan A.-
dc.contributor.otherEscuela de Ingeniería de Telecomunicación y Electrónicaes
dc.contributor.otherDepartamento de Ingeniería Mecánicaes
dc.date.accessioned2017-04-25T02:30:55Z
dc.date.accessioned2018-06-05T13:20:48Z-
dc.date.available2017-04-25T02:30:55Z
dc.date.available2018-06-05T13:20:48Z-
dc.date.issued2006en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/21452
dc.description.abstractEsta Tesis Doctoral aporta una metodología y un entorno para la verificación y validación de sistemas integrados de última generación, basados en la exploración del espacio de diseño y la generación guiada mediante diversas métricas de cobertura. El entorno desarrollado en C++ permite comprobar elementos sencillos, como son los módulos de lógica combinacional o secuencial, o tan complejos, como un sistema integrado de última generación; bien de forma automática o especificando casos críticos. La metodología y el entorno propuesto, son aplicados a la verificación de elementos en fase de desarrollo en cualquier nivel y donde existan descripciones hardware y/o software.en_US
dc.formatapplication/pdfes
dc.languagespaen_US
dc.rightsby-nc-ndes
dc.subject3307 Tecnología electrónicaen_US
dc.subject33 Ciencias tecnológicasen_US
dc.subject.otherDiseño de Sistemasen_US
dc.subject.otherSistemas de conmutaciónen_US
dc.titleMetodología para la verificación de sistemas de conmutación de paquetesen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisen_US
dc.typeThesisen_US
dc.typeThesisen_US
dc.compliance.driver1es
dc.identifier.absysnet493529es
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.type2Tesis doctoralen_US
dc.identifier.matricula122536
dc.identifier.ulpgces
item.fulltextCon texto completo-
item.grantfulltextopen-
crisitem.advisor.deptIUMA Sistemas de Información y Comunicaciones-
crisitem.advisor.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.advisor.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
Appears in Collections:Tesis doctoral
Thumbnail
Adobe PDF (20,38 MB)
Show simple item record

Google ScholarTM

Check


Share



Export metadata



Items in accedaCRIS are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.