Identificador persistente para citar o vincular este elemento:
http://hdl.handle.net/10553/105743
Campo DC | Valor | idioma |
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dc.contributor.author | Plaza, Ángel | en_US |
dc.date.accessioned | 2021-03-15T10:01:39Z | - |
dc.date.available | 2021-03-15T10:01:39Z | - |
dc.date.issued | 2021 | en_US |
dc.identifier.issn | 0002-9890 | en_US |
dc.identifier.other | Scopus | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10553/105743 | - |
dc.language | eng | en_US |
dc.relation.ispartof | The American mathematical monthly | en_US |
dc.source | American Mathematical Monthly [ISSN 0002-9890], v. 128 (2), p. 162 (Enero 2021) | en_US |
dc.subject | 1202 Análisis y análisis funcional | en_US |
dc.subject.other | Msc: Primary 26D07 | en_US |
dc.subject.other | Secondary: 97H30 | en_US |
dc.title | Exponential inequalities and corollaries | en_US |
dc.type | info:eu-repo/semantics/annotation | en_US |
dc.type | Annotation | en_US |
dc.identifier.doi | 10.1080/00029890.2021.1845555 | en_US |
dc.identifier.scopus | 85100984582 | - |
dc.contributor.authorscopusid | 57222012507 | - |
dc.identifier.eissn | 1930-0972 | - |
dc.identifier.issue | 2 | - |
dc.relation.volume | 128 | en_US |
dc.investigacion | Ciencias | en_US |
dc.type2 | Comentario | en_US |
dc.utils.revision | Sí | en_US |
dc.date.coverdate | Enero 2021 | en_US |
dc.identifier.ulpgc | Sí | en_US |
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dc.contributor.buulpgc | BU-INF | en_US |
dc.description.sjr | 0,335 | |
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dc.description.sjrq | Q3 | |
dc.description.jcrq | Q4 | |
dc.description.scie | SCIE | |
item.fulltext | Sin texto completo | - |
item.grantfulltext | none | - |
crisitem.author.dept | GIR IUMA: Matemáticas, Gráficos y Computación | - |
crisitem.author.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.dept | Departamento de Matemáticas | - |
crisitem.author.orcid | 0000-0002-5077-6531 | - |
crisitem.author.parentorg | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.fullName | Plaza De La Hoz, Ángel | - |
Colección: | Comentario |
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