Estadísticas: 32nd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2019

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Mapa geográfico
Región #
NA - América del Norte 195
AS - Asia, otros 5
EU - Europa 1
Total 201
País #
US - Estados Unidos de América 195
SG - Singapur 5
DE - Alemania 1
Total 201
Ciudad Cantidad
Singapore 2
Chandler 1
Nuremberg 1
Desconocido 197
Total 201


Ene Feb Mar Abr May Jun Jul Ago Sep Oct Nov Dic Tot
2021 00 0000 0100 00 1
2022 00 0000 0001 00 1
2023 00 3000 00101 00 14
2024 1530 0022 01285 30 185
TOTAL 201