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Sánchez Clemente, Antonio José ; Barrios Alfaro,Yubal ; Santos Falcón, Lucana ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2024 Localización: Microprocessors and Microsystems [ ISSN 0141-9331], v. 104, 104987, (Febrero 2024) SJR: 0,488 - Q2 JCR: 2,6 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Barrios Alfaro,Yubal ; Bartrina-Rapestà, Joan; Hernández-Cabronero, Miguel; Sánchez Clemente, Antonio José ; Blanes, Ian, et al. Fecha de publicación: 2024 SJR: 1,284 - Q1 JCR: 4,8 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,7 Artículo |
Barrios,Yubal ; Sanjuan, Francisco; Bordot, Geoffroy; Sharif, Helia; Bernier, Jerome, et al. Fecha de publicación: 2023 Localización: Proceedings - 2023 26th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2023[EISSN ], p. 407-414, (Enero 2023) Actas de congresos |
Machado, Felipe; Barrios,Yubal ; Sarmiento, Roberto ; Sanjuan, Francisco; Fiengo, Aniello Fecha de publicación: 2023 Localización: Proceedings of the 2023 European Data Handling and Data Processing Conference for Space, EDHPC 2023[EISSN ], (Enero 2023) Actas de congresos |
Torres Fau, Samuel ; Sanchez, Antonio J.; Barrios,Yubal ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2023 Localización: Proceedings of the 2023 European Data Handling and Data Processing Conference for Space, EDHPC 2023[EISSN ], (Enero 2023) Actas de congresos |
Barrios Alfaro, Yubal ; Guerra, Raul ; Lopez, Sebastian ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2022 Localización: IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing [ISSN 1939-1404], v. 15, p. 1656-1669, (2022) SJR: 1,264 - Q1 JCR: 5,5 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,6 Artículo |
Sánchez, Antonio ; Barrios Alfaro,Yubal ; Sarmiento Rodríguez, Roberto ; Hernández Expósito, David; Sánchez Gómez, Antonio Fecha de publicación: 2022 Localización: 37th Conference on Design of Circuits and Integrated Circuits (DCIS), Pamplona, Spain, 2022, p. 01-06, (2022) Actas de congresos |
Barrios Alfaro,Yubal ; Neris Tomé, Romén ; Guerra Hernández,Raúl Celestino ; López Suárez, Sebastián Miguel ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2022 Localización: DCIS 2022 - Proceedings of the 37th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems Actas de congresos |
Sanchez Clemente, A. J. ; Blanes, Ian; Barrios Alfaro, Yubal ; Hernandez-Cabronero, Miguel; Bartrina-Rapesta, Joan, et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters[ISSN 1545-598X], (Enero 2022) SJR: 1,284 - Q1 JCR: 4,8 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,7 Artículo |
Sánchez Clemente, Antonio José ; Barrios Alfaro,Yubal ; Ventura Henríquez,Diego ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2022 Localización: 25th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), Maspalomas, Spain, 2022 Actas de congresos |
Ventura Henríquez, Diego ; Barrios Alfaro, Yubal ; Sánchez Clemente, Antonio José ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2021 Localización: 36th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS 2021[EISSN 2640-5563], (Enero 2021) Actas de congresos |
Barrios Alfaro, Yubal ; Sánchez, Antonio ; Guerra, Raúl ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2021 Localización: Remote Sensing [EISSN 2072-4292], v. 13 (21), 4388, (Noviembre 2021) SJR: 1,283 - Q1 JCR: 5,349 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,6 Artículo |
Barrios Alfaro, Yubal ; Guerra Hernández, Raúl Celestino ; López Suárez, Sebastián ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2021 Localización: IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters [ISSN 1545-598X], n. 19 SJR: 1,403 - Q1 JCR: 5,343 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,7 Artículo |
Barrios Alfaro, Yubal ; Sánchez Clemente, Antonio José ; Santos, Lucana ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2020 Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536],v. 8, p. 54269-54287 SJR: 0,587 - Q1 JCR: 3,367 - Q2 SCIE Artículo |
Aranda, Luis Alberto; Sánchez Clemente, Antonio José ; Garcia-Herrero, Francisco; Barrios Alfaro, Yubal ; Sarmiento, Roberto , et al. Fecha de publicación: 2020 Localización: Electronics (Switzerland) [EISSN 2079-9292], v. 9 (10), 1681, (Octubre 2020) SJR: 0,36 - Q2 JCR: 2,397 - Q3 SCIE Artículo |
Barrios Alfaro, Yubal ; Rodríguez, Alfonso; Sánchez Clemente, Antonio José ; Pérez, Arturo; López, Sebastián , et al. Fecha de publicación: 2020 Localización: Electronics (Switzerland)[EISSN 2079-9292],v. 9 (10), p. 1-23, (Octubre 2020) SJR: 0,36 - Q2 JCR: 2,397 - Q3 SCIE Artículo |
Sánchez Clemente, Antonio José ; Barrios Alfaro, Yubal ; Santos, Lucana ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2019 Localización: 2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2019 Actas de congresos |
Guerra Hernández, Raúl Celestino ; Barrios Alfaro, Yubal ; Díaz Martín, María ; Baez Quevedo, Abelardo ; López Suárez, Sebastián , et al. Fecha de publicación: 2019 Localización: IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing [ISSN 1939-1404], v. 12(12), p. 4813-4828 SJR: 1,48 - Q1 JCR: 3,827 - Q1 SCIE Artículo |
Armesto Caride, L.; Rodríguez, A; Pérez Garcia, A.; Sáez, S.; Valls, J., et al. Fecha de publicación: 2019 Localización: Validation and Verification of Automated Systems: Results of the ENABLE-S3 Project / Leitner A., Watzenig D., Ibanez-Guzman J. (eds), p. 231-249, (Enero 2019) SPI: Q1 Capítulo de libro |
Barrios Alfaro, Yubal ; Sánchez Clemente, Antonio José ; Santos, Lucana ; Lopez, Sebastian ; Lopez, Jose Fco , et al. Fecha de publicación: 2018 Localización: Workshop on Hyperspectral Image and Signal Processing, Evolution in Remote Sensing [ISSN 2158-6276],v. 2018-September Actas de congresos |