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Galán, M. J; García Del Pino, Fidel ; Sadarangani Sadarangani, Kishin Bhagwands ; Rodríguez, Y; Banas, J Fecha de publicación: 2001 Artículo
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Galán, M. J.; García, F. ; Álvarez Álvarez, Luis Antonio ; Ocón Carreras, Antonio Andrés ; Rubio, E. Fecha de publicación: 2001 Localización: Informatica (Ljubljana) [ISSN 0350-5596], v. 25 (2), p. 189-193, (Julio 2001) ESCI Artículo
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González-Calvo, A; García Del Pino, Fidel ; Aznárez González, Juan José ; Maeso Fortuny, Orlando Fco Fecha de publicación: 2002 Artículo
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Maeso, Orlando ; Aznárez, Juan J. ; Garcia, F Fecha de publicación: 2005 Localización: Computers and Structures[ISSN 0045-7949],v. 83, p. 769-782 JCR: 0,632 - Q2 SCIE Artículo
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Cifuentes, Héctor; García, Fidel ; Maeso, Orlando ; Medina, Fernando Fecha de publicación: 2013 Localización: Construction and Building Materials[ISSN 0950-0618],v. 45, p. 130-137 SJR: 1,88 - Q1 JCR: 2,265 - Q1 SCIE Artículo
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Padrón Hernández, Luis Alberto ; Medina López, Cristina ; Álamo Meneses, Guillermo Manuel ; Aznárez González, Juan José ; Santana Naranjo, Ariel , et al. Fecha de publicación: 2015 Localización: Comunicaciones presentadas al XIX Congreso Internacional de Ingeniería de Proyectos: celebrado en Granada el 15, 16 y 17 de julio de 2015, p. 111-0 Artículo
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García, F. ; Aznárez, J. J. ; Padrón, L. A. ; Maeso, O. Fecha de publicación: 2016 Localización: Soil Dynamics and Earthquake Engineering[ISSN 0267-7261],v. 90, p. 442-453 SJR: 1,485 - Q1 JCR: 1,545 - Q3 SCIE Artículo
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Ramón Turner, Oscar ; Rodríguez Bordón, Jacob David ; González Rodríguez, Asunción ; Lorenzo Navarro, José Javier ; Castrillón Santana, Modesto Fernando , et al. Fecha de publicación: 2025 Localización: Sensor [1424-8220], v. 25, p. 1-32 SJR: 0,786 - Q1 JCR: 3,4 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo
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Ramón Turner, Oscar ; Rodríguez Bordón, Jacob David ; González Rodríguez, Asunción ; Lorenzo Navarro, José Javier ; Castrillón Santana, Modesto Fernando , et al. Fecha de publicación: 2025 Localización: Sensors [EISSN 1424-8220] ,v. 25 (12) SJR: 0,786 - Q1 JCR: 3,4 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo
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