Sadhwani Alonso, José Jaime

Vaswani Reboso, Jenifer ; Sadhwani Alonso, José Jaime ; Santiago García, Dunia E. 
Fecha de publicación: 2023
Localización: Proceedings of 36th International Conference on Efficiency, Cost, Optimization, Simulation and Environmental Impact of Energy Systems [ISBN 9781713874928], p. 3111-3119, (Julio 2023)
Actas de congresos
Sagaseta de Ilurdoz, M.; Sadhwani Alonso, J. Jaime ; Vaswani Reboso, Jenifer 
Fecha de publicación: 2022
Localización: Journal of Water Process Engineering [ISSN 2214-7144], v. 45, 102474, (Febrero 2022)
SJR: 1,144
- Q1
JCR: 7,0
- Q1
SCIE
MIAR ICDS: 8,3
Artículo
Sadhwani Alonso, J. Jaime ; Vaswani Reboso, Jenifer ; Santiago Garcia, Dunia Esther ; Angulo Suárez, Inés María 
Fecha de publicación: 2021
SPI: Q2
Libro
Sadhwani Alonso, José Jaime ; Vaswani Reboso, Jenifer ; Santiago, Dunia Esther 
Fecha de publicación: 2021
SPI: Q2
Libro
Tornero Gómez, Tomás; Sadhwani Alonso, José Jaime ; Mato Carrodeguas, María del Carmen 
Fecha de publicación: 2017
Localización: El Guiniguada. Revista de investigaciones y experiencias en Ciencias de la Educación [ISSN 2386-3374], v. 26, p. 89-103
ESCI
ERIH PLUS
Artículo
0235347_00026_0009.pdf.jpg
Melián-Martel, N. ; Sadhwani Alonso, J. J. ; Pérez Báez, S. O. 
Fecha de publicación: 2013
Localización: Desalination and Water Treatment[ISSN 1944-3994],v. 51, p. 560-566
SJR: 0,409
- Q2
JCR: 0,987
- Q3
SCIE
Artículo
Rodríguez-delanuez, Fernando; Franquiz-Suárez, Nut; Santiago, Dunia Esther ; Veza, José Miguel; Sadhwani, Jose Jaime 
Fecha de publicación: 2012
Localización: Desalination and Water Treatment[ISSN 1944-3994],v. 39, p. 137-148
SJR: 0,416
- Q2
JCR: 0,852
- Q3
SCIE
Artículo
Melián-Martel, N. ; Sadhwani, J. J. ; Perez Baez, S. Ovidio 
Fecha de publicación: 2011
Localización: Desalination[ISSN 0011-9164],v. 281, p. 35-41
SJR: 1,109
- Q1
JCR: 2,59
- Q1
SCIE
Artículo
Veza, Jose M.; Ortiz, Marta; Sadhwani, Jose J. ; González González, Juan Emilio ; Santana, Francisco J. 
Fecha de publicación: 2008
Localización: Desalination[ISSN 0011-9164],v. 220, p. 326-334
JCR: 1,155
- Q2
SCIE
Artículo