González Sánchez, Luis

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Departamento:  gir ingeniería química y tecnología
Tipo:  artículo

González, L. ; García, D. ; Galván, B. 
Fecha de publicación: 2004
Localización: IEEE Transactions On Reliability [ISSN 0018-9529], v. 53 (3), p. 297-305, (Septiembre 2004)
JCR: 0,828
- Q2
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