Diaz, Moises ; Ferrer, Miguel A. ; Gil, Juan M. ; Rodriguez, Rafael ; Zhang, Peirong, et al. Fecha de publicación: 2025 Localización: Pattern Recognition [ISSN 0031-3203], v. 164, (Agosto 2025) SJR: 2,732 - Q1 JCR: 7,5 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |