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Barrios Alfaro,Yubal ; Bartrina-Rapestà, Joan; Hernández-Cabronero, Miguel; Sánchez Clemente, Antonio José ; Blanes, Ian, et al Issued date: 2024 Source: Ieee Geoscience And Remote Sensing Letters[ISSN 1545-598X],v. 21, (2024) SJR: 1,248 - Q1 JCR: 4,0 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,7 Artículo
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Sánchez Clemente, Antonio José ; Chatziantoniou, Panagiotis; Bartrina-Rapesta, Joan; Barrios Alfaro,Yubal ; Torres Fau, Samuel , et al Issued date: 2024 Actas de congresos
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Sanchez Clemente, A. J. ; Blanes, Ian; Barrios Alfaro, Yubal ; Hernandez-Cabronero, Miguel; Bartrina-Rapesta, Joan, et al Issued date: 2022 Source: IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters[ISSN 1545-598X], (Enero 2022) SJR: 1,284 - Q1 JCR: 4,8 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,7 Artículo
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