Sarmiento, R ; Tobajas, Félix ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, Roberto ; López Feliciano, José Francisco , et al. Fecha de publicación: 1998 Localización: Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (Vlsi) Systems[ISSN 1063-8210],v. 6 (1), p. 18-30 JCR: 0,733 - Q1 SCIE Artículo
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