Hoffmann, Kenneth R.; Lan, Li; Esclarin, Julio ; Esthappan, Jacqueline; Sen, Anindya, et al. Fecha de publicación: 1999 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering [ISSN 0277-786X], v. 3660 , p. 335-342 Artículo |