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Departamento:  iu de microelectrónica aplicada
Departamento:  departamento de psicología, sociología y trabajo social
Lijo, Ruben; Quevedo, Eduardo ; Castro Sánchez, José Juan ; Horta, Ricard
Fecha de publicación: 2022
Localización: IEEE Access [EISSN 2169-3536], n. 10, p. 8948-8959
SJR: 0,926
- Q1
JCR: 3,9
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 10,4
Artículo
Lijó Sánchez,Rubén ; Quevedo Gutiérrez, Eduardo Gregorio ; Castro Sánchez, José Juan ; Horta, Ricard
Fecha de publicación: 2023
Localización: IEEE Access [2169-3536], v.11, p. 19622-19634, 2023
SJR: 0,926
- Q1
JCR: 3,9
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 10,4
Artículo