Sandoval González, Juan Domingo ; Delgado Morales, Keyla ; Fariña Santana, Esteban David ; de la Puente, Fernando ; Esper-Chaín Falcón, Roberto , et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: Applied Sciences (Switzerland) [EISSN 2076-3417], v. 12 (21), 11087, (Noviembre 2022) SJR: 0,507 - Q2 JCR: 2,7 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,5 Artículo |