IEEE Latin America Transactions

Publicaciones

Busca por:
Departamento:  departamento de ingeniería electrónica y automática

Gutiérrez, Íñigo; Meléndez, Juan; García, Javier ; Adín, Iñigo; Bistué, Guillermo, et al.
Fecha de publicación: 2005
Localización: IEEE Latin America Transactions[ISSN 1548-0992],v. 3 (1642424), p. 317-322
SCIE
Actas de congresos
Reliability_Verification_in_a_Measurement_System_o.pdf.jpg