Marchan-Hernandez, J. F.; Valencia, E.; Rodriguez-Alvarez, N.; Ramos-Perez, I.; Bosch-Lluis, X., et al.
Fecha de publicación: 2010
Localización: IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters[ISSN 1545-598X],v. 7 (5440913), p. 621-625
SJR: 1,197
- Q1
JCR: 1,431
- Q2
SCIE
Artículo