|
Galante Sempere, David ; Ramos Valido, Dailos ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; Del Pino Suárez, Francisco Javier Fecha de publicación: 2020 Localización: Sensors (Switzerland)[ISSN 1424-8220],v. 20 (22), p. 1-16, (Noviembre 2020) SJR: 0,636 - Q2 JCR: 3,576 - Q2 SCIE Artículo
|
Galante Sempere, David ; Ramos Valido, Dailos ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; Del Pino Suárez, Francisco Javier Fecha de publicación: 2022 Localización: Sensors [ISSN 1424-8220], v. 22 (4), 1662, (Febrero 2022) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo
|
Galante Sempere, David ; Del Pino, Javier ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; García-Vázquez, Hugo Fecha de publicación: 2022 Localización: Sensors (Basel, Switzerland)[EISSN 1424-8220],v. 22 (14), (Julio 2022) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo
|
Galante Sempere, David ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; Del Pino Suárez, Francisco Javier Fecha de publicación: 2023 Localización: Sensors (Switzerland) [ISSN 1424-8220] v. 23 (2), 867, (Enero 2023) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo
|
Galante Sempere, David ; Torres-Clarke, Jeffrey; Del Pino Suárez, Francisco Javier ; Lalchand Khemchandani, Sunil Fecha de publicación: 2024 Localización: Sensors[EISSN 1424-8220],v. 24 (8), (Abril 2024) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo
|