Publicaciones

Ferrer, Miguel A. ; Alonso, Jesús B. ; Travieso, Carlos M. 
Fecha de publicación: 2005
Localización: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence[ISSN 0162-8828],v. 27, p. 993-997
JCR: 3,81
- Q1
SCIE
Artículo
Peñate Sánchez, Adrián ; Andrade-Cetto, Juan; Moreno-Noguer, Francesc
Fecha de publicación: 2013
Localización: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence [ISSN 0162-8828], v. 35 (10), p. 2387-2400, (Octubre 2013)
SJR: 4,715
- Q1
JCR: 5,694
- Q1
SCIE
Artículo
Marquez-Neila, Pablo; Baumela, Luis; Alvarez, Luis 
Fecha de publicación: 2014
Localización: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence [ISSN 0162-8828],v. 36, nº 1, (6529072), p. 2-17
SJR: 4,024
- Q1
JCR: 5,781
- Q1
SCIE
Artículo
Ferrer, Miguel A. ; Diaz-Cabrera, Moises ; Morales, Aythami
Fecha de publicación: 2015
Localización: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence[ISSN 0162-8828],v. 37 (6867369), p. 667-680
SJR: 5,357
- Q1
JCR: 6,077
- Q1
SCIE
Artículo
Ferrer, Miguel A. ; Diaz, Moises ; Carmona-Duarte, Cristina ; Morales, Aythami
Fecha de publicación: 2017
Localización: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence[ISSN 0162-8828],v. 39 (7494603), p. 1041-1053
SJR: 2,367
- Q1
JCR: 9,455
- Q1
SCIE
Artículo
DIaz, Moises ; Ferrer, Miguel A. ; Eskander, George S.; Sabourin, Robert
Fecha de publicación: 2017
Localización: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence[ISSN 0162-8828],v. 39 (7463072), p. 951-964
SJR: 2,367
- Q1
JCR: 9,455
- Q1
SCIE
Artículo
Diaz, Moises ; Quintana Hernández, José Juan ; Ferrer, Miguel A. 
Fecha de publicación: 2019
Localización: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence [ISSN 0162-8828], v. 41 (12), p. 2807 - 2819
SJR: 7,536
- Q1
JCR: 17,861
- Q1
SCIE
Artículo
Ferrer Ballester, Miguel Ángel ; Diaz Cabrera, Moises ; Carmona Duarte, María Cristina ; Plamondon, Réjean
Fecha de publicación: 2020
Localización: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence [ISSN 0162-8828], v. 42 (1), p. 114-125
SJR: 3,811
- Q1
JCR: 16,389
- Q1
SCIE
Artículo