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Florido, R. ; Nagayama, Taisuke N.; Mancini, Roberto C.; Tommasini, Riccardo; Delettrez, Jacques A., et al. Fecha de publicación: 2008 Localización: Review Of Scientific Instruments [ISSN 0034-6748], v. 79 (10) JCR: 1,738 - Q2 SCIE Actas de congresos |
Nagayama, T.; Mancini, R. C.; Florido, R. ; Tommasini, R.; Koch, J. A., et al. Fecha de publicación: 2008 Localización: Review Of Scientific Instruments [ISSN 0034-6748], v. 79 (10) JCR: 1,738 - Q2 SCIE Actas de congresos |
Florido, R. ; Mancini, R. C.; Nagayama, T.; Tommasini, R.; Delettrez, J. A., et al. Fecha de publicación: 2010 Localización: Review Of Scientific Instruments [ISSN 0034-6748], v. 81 (10) JCR: 1,601 - Q2 SCIE Actas de congresos |
Álvarez, Mar; Fariña, David; Medina Escuela, Alfonso Francisco ; Sendra Sendra, José Ramón ; Lechuga, Laura M. Fecha de publicación: 2013 Localización: Review Of Scientific Instruments[ISSN 0034-6748],v. 84 (1) SJR: 0,898 - Q2 JCR: 1,584 - Q2 SCIE Artículo |
Nagayama, T.; Mancini, R.; Mayes, D.; Tommasini, R.; Florido, R. Fecha de publicación: 2015 Localización: Review Of Scientific Instruments [ISSN 0034-6748], v. 86 (11) SJR: 0,562 - Q2 JCR: 1,336 - Q2 SCIE Artículo |
Pérez-Callejo, G.; Bailly-Grandvaux, M.; Florido Hernández, Ricardo Jesús ; Walsh, C. A.; Gigosos, M. A., et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: The Review of scientific instruments [EISSN 1089-7623], v. 93 (11), 113542, (Noviembre 2022) SJR: 0,55 - Q2 JCR: 1,6 - Q3 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |