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López Feliciano, José Francisco ; Cortés, P.; López, S. ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33(12), p. 1123-1134 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Actas de congresos |
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1107-1114 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Artículo |
Tubío, O.; Esper-Chaín, R. ; González, F.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1097-1105 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Artículo |
González, F.; Tubío, O.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1115-1122 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Actas de congresos |
Cervero, T. ; López, S. ; Callicó, G. M. ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2014 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 45, p. 1292-1303 JCR: 0,836 - Q3 SCIE Artículo |