Título Año
Resonant Raman scattering study of InSb etched by reactive ion beam etching Sendra, J. R. ; Armelles, G.; Utzmeier, T.; Anguita, J.; Briones, F. Fecha de publicación: 1996 DOI: 10.1063/1.362472 Localización: Journal of Applied Physics[ISSN 0021-8979],v. 79, p. 8853-8855 SCIE Artículo
Field emission and electron deposition profiles as a function of carbon nanotube tip geometries Sanchez, Jaime A.; Wong, Basil T.; Mengüç, M. Pinar; Albella, P. Fecha de publicación: 2007 DOI: 10.1063/1.2743087 Localización: Journal of Applied Physics[ISSN 0021-8979],v. 101 (114313) JCR: 2,171 - Q1 SCIE Artículo