Name IEEE Transactions on Reliability

Publicaciones

González, L. ; García, D. ; Galván, B. 
Issued date: 2004
Source: IEEE Transactions On Reliability [ISSN 0018-9529], v. 53 (3), p. 297-305, (Septiembre 2004)
JCR: 0,828
- Q2
SCIE
Artículo