IEEE Transactions on Reliability

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Error Mitigation Using Approximate Logic Circuits: A Comparison of Probabilistic and Evolutionary Approaches Sánchez Clemente, Antonio José ; Entrena, Luis; Hrbacek, Radek; Sekanina, Lukas Fecha de publicación: 2016 DOI: 10.1109/TR.2016.2604918 Localización: IEEE Transactions on Reliability [ISSN 0018-9529], v. 65(4), p. 1871-1883, (Diciembre 2016) SJR: 1,335 - Q1 JCR: 2,79 - Q1 SCIE Artículo

Sánchez Clemente, Antonio José ; Entrena, Luis; Hrbacek, Radek; Sekanina, Lukas

Fecha de publicación: 2016

DOI: 10.1109/TR.2016.2604918

Localización: IEEE Transactions on Reliability [ISSN 0018-9529], v. 65(4), p. 1871-1883, (Diciembre 2016)

SJR: 1,335

- Q1

JCR: 2,79

- Q1

SCIE

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