Aguilera, Jaime; Meléndez, Juan; Berenguer, Roc; Sendra, José Ramón ; Hernández Ballester, Antonio , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: IEEE Transactions on Electron Devices[ISSN 0018-9383],v. 49, p. 1084-1086 JCR: 1,936 - Q1 SCIE Artículo
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