Skip navigation
ESPAÑOL
ENGLISH
Estadísticas
Qué es accedaCRIS
Ayuda
Iniciar sesión
Menú
Publicaciones
Investigación
Académicas
Tesis
Patentes
Revistas ULPGC
Congresos ULPGC
Vídeos ULPGC
Datasets ULPGC
Personal investigador
Organización
Proyectos
En todo el portal
Publicaciones Investigación
Publicaciones Académicas
Tesis
Proyectos
Patentes
Personal Investigador
Organización
Revistas
IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium proceedings
Estadísticas
Alertas
RSS
Detalles
Publicaciones
Publicaciones
Muestra/Oculta filtros
Tipo de publicación
1
actas de congresos
Por investigador
1
gómez déniz, luis
1
álvarez león, luis miguel
Por afiliación
1
departamento de ingeniería electrónica y automática
1
gir modelos matemáticos
Acota filtrado
Busca por:
Departamento:
gir iuces: centro de tecnologías de la imagen
Departamento:
iu de cibernética, empresa y sociedad (iuces)
Departamento:
departamento de informática y sistemas
Muestra/Oculta filtros
Seleccionar todos
Refman
EndNote
Bibtex
RefWorks
CSV
Excel
Mandar vía correo eléctronico
Título
Año
Local edginess measures in PolSAR imagery by using stochastic distances
Gómez Déniz, Luis
; Alvarez, Luis
; Frery, Alejandro C.
Fecha de publicación: 2018
DOI:
10.1109/IGARSS.2018.8518008
Localización:
IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium proceedings [ISSN 2153-6996], p. 5796-5799, (2018)
Actas de congresos