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Martínez Vega, Beatriz ; León Martín, Sonia Raquel ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Ortega Sarmiento,Samuel ; Quevedo Gutiérrez, Eduardo Gregorio , et al. Fecha de publicación: 2023 Localización: Proceedings - 2023 26th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2023[EISSN ], p. 500-506, (Enero 2023) Actas de congresos |
León, Raquel ; Fabelo, Himar ; Ortega, Samuel ; Pineiro, Juan F.; Szolna, Adam, et al. Fecha de publicación: 2023 Localización: Proceedings - 2023 26th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2023[EISSN ], p. 493-499, (Enero 2023) Actas de congresos |
La Salvia, Marco; Torti, Emanuele; Gazzoni, Marco; Marenzi, Elisa; León, Raquel , et al. Fecha de publicación: 2023 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering [ISSN 0277-786X], v. 12338, (Enero 2023) SJR: 0,166 - - MIAR ICDS: 6,5 Actas de congresos |
Cruz-Guerrero, Ines A.; León, Raquel ; Mejía-Rodríguez, Aldo Rodrigo; Campos-Delgado, Daniel Ulises; Fabelo, Himar , et al. Fecha de publicación: 2023 Localización: Diagnosis and Treatment of Cancer using Thermal Therapies: Minimal and Non-invasive Techniques[EISSN ], p. 81-101, (Octubre 2023) Capítulo de libro |
Vega García, Carlos ; León Martín, Sonia Raquel ; Ojeda Medina, Norberto Arminio ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Ortega Sarmiento,Samuel , et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: Proceedings - 2022 25th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2022 / Himar Fabelo, Samuel Ortega, Amund Skavhaug (Eds.), p. 863-870 Actas de congresos |
La Salvia, Marco; Torti, Emanuele; León, Raquel ; Fabelo, Himar A. ; Ortega, Samuel , et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: Sensors (Basel, Switzerland)[EISSN 1424-8220],v. 22 (16), (Agosto 2022) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo |
Cruz-Guerrero, Inés A.; León Martín, Sonia Raquel ; Granados-Castro, Liliana; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Ortega Sarmiento,Samuel , et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: Proceedings - 2022 25th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2022 / Himar Fabelo, Samuel Ortega, Amund Skavhaug (Eds.), p. 855-862 Actas de congresos |
La Salvia, Marco; Torti, Emanuele; Gazzoni, Marco; Marenzi, Elisa; León Martín, Sonia Raquel , et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: Proceedings - 2022 25th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2022 / Himar Fabelo, Samuel Ortega, Amund Skavhaug (Eds.), p. 871-876 Actas de congresos |
La Salvia, Marco; Torti, Emanuele; León Martín, Sonia Raquel ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Ortega, Samuel , et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: Sensors (Switzerland) [ISSN 1424-8220], v. 22 (19), 7139, (Septiembre 2022) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo |
León Martín, Sonia Raquel ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Gelado, Sofia H.; Ortega Sarmiento, Samuel ; Quintana Quintana, Laura , et al. Editor/a: Linte, Cristian A.; Siewerdsen, Jeffrey H. Fecha de publicación: 2022 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering [ISSN 0277-786X], v. 12034, 1203429, (Abril 2022) SJR: 0,166 - - MIAR ICDS: 6,5 Actas de congresos |
Quintana Quintana, Laura ; Ortega Sarmiento, Samuel ; León Martín, Sonia Raquel ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Balea Fernandez, Francisco Javier , et al. Editor/a: Levenson, Richard M.; Tomaszewski, John E.; Ward, Aaron D. Fecha de publicación: 2022 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering [ISSN 0277-786X], v. 12039, 120390E, (2022) SJR: 0,166 - - MIAR ICDS: 6,5 Actas de congresos |
Martínez Vega, Beatriz ; León, Raquel ; Fabelo, Himar ; Ortega, Samuel ; Callicó, Gustavo M. , et al. Fecha de publicación: 2021 Localización: Proceedings - 2021 24th Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2021, p. 480-487, (Enero 2021) Actas de congresos |
León, Raquel ; Fabelo, Himar ; Ortega, Samuel ; Piñeiro, Juan F.; Szolna, Adam , et al. Fecha de publicación: 2021 Localización: Scientific Reports [EISSN 2045-2322], v. 11 (1), 19696, (Diciembre 2021) SJR: 1,005 - Q1 JCR: 4,996 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,5 Artículo |
Fabelo Gómez, Himar Antonio ; León Martín, Sonia Raquel ; Ortega Sarmiento, Samuel ; Balea Fernandez, Francisco Javier ; Clavo Varas, Bernardino , et al. Fecha de publicación: 2021 Localización: 36th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS 2021 [EISSN 2640-5563], (Enero 2021) Actas de congresos |
Quintana, Laura ; Ortega, Samuel ; León, Raquel ; Fabelo, Himar ; Callicó, Gustavo M. , et al. Fecha de publicación: 2021 Localización: 36th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS 2021[EISSN 2640-5563], (Enero 2021) Actas de congresos |
León Martín, Sonia Raquel ; Hernández Guedes, Abián ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Ortega Sarmiento, Samuel ; Balea Fernandez, Francisco Javier , et al. Fecha de publicación: 2021 Localización: Short-Wavelength Infrared Windows for Biomedical Applications / editor(s), Laura A. Sordillo, Peter P. Sordillo, chapter 13, p. 407-437 Capítulo de libro |
León, Raquel ; Fabelo, Himar ; Ortega Sarmiento, Samuel ; Callicó, Gustavo M. Fecha de publicación: 2021 Localización: 36th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS 2021[EISSN 2640-5563], (Enero 2021) Actas de congresos |
Balea Fernández, Francisco Javier ; Martínez Vega, Beatriz ; Ortega Sarmiento, Samuel ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; León Martín, Sonia Raquel , et al. Fecha de publicación: 2021 Localización: Journal of Alzheimer's Disease[ISSN 1387-2877],v. 79 (2), p. 845-861 SJR: 1,225 - Q1 JCR: 4,16 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo |
Cruz-Guerrero, Ines A.; León Martín, Sonia Raquel ; Campos-Delgado, Daniel U.; Ortega Sarmiento, Samuel ; Fabelo Gómez, Himar Antonio , et al. Fecha de publicación: 2020 Localización: Applied Sciences [ISSN 2076-3417], n. 10 (16), 5686, (2020) SJR: 0,293 - Q2 Artículo |
León Martín, Sonia Raquel ; Martínez Vega, Beatriz ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Ortega Sarmiento, Samuel ; Melián, Veronica, et al. Fecha de publicación: 2020 Localización: Journal of Clinical Medicine [ISSN 2077-0383], v. 9 (6), 1662 JCR: 4,241 - Q1 SCIE Artículo |