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Arteaga, R.; Tobajas, F. ; Esper-Chain, R. ; De Armas Sosa, Valentín ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2008 Localización: Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE[ISSN 1530-1591] (4484878), p. 1450-1455 Actas de congresos |
Arteaga, R.; Tobajas, F. ; Esper-Chaín, R. ; Monzón, M. A.; Regidor, R., et al. Fecha de publicación: 2007 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 6590 (659012) Actas de congresos |
Regidor, Raúl; Esper-Chaín, Roberto ; Tobajas, Félix ; Santana, Octavio; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2006 Localización: Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (4263602), p. 1256-1259 Actas de congresos |
Tobajas, Félix B. ; Esper-Chaín, Roberto ; Regidor, R.; Santana, O. ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2006 Localización: 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and systems,v. 2006 (1649564), p. 19-24 Actas de congresos |
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. ; Tubío, O.; Arteaga, R.; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2005 Localización: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs[ISSN 1549-7747],v. 52, p. 5-9 SCIE Artículo |
Tobajas, F. ; Esper-Chain, R. ; Arteaga, R.; Santana, O.; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2005 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5837 PART I (14), p. 112-120 Actas de congresos |
Tobajas, Félix ; Esper-Chaín, Roberto ; Tubío, Óscar; Arteaga Mesa,Ruben ; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2005 Localización: Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems [ISSN 0271-4310] (1465463), p. 3821-3824 Actas de congresos |
Tobajas, F. ; Cañero, V.; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. ; Arteaga, R., et al. Fecha de publicación: 2004 Localización: GLOBECOM - IEEE Global Telecommunications Conference,v. 2, p. 655-659 Actas de congresos |
Tobajas, F. ; Esper-Chaín, R. ; De Armas Sosa, Valentín ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2003 Localización: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 39, p. 580-581 SJR: 1,278 - Q1 JCR: 1,01 - Q2 SCIE Artículo |
Tejera, E.; Esper-Chain, R. ; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2003 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5117, p. 106-115 Actas de congresos |
Arteaga, R.; Tobajas, F. ; Esper-Chain, R. ; De Armas Sosa, Valentín ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2003 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5117, p. 116-125 Actas de congresos |
Tubío, O.; Esper-Chaín, R. ; González, F.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1097-1105 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Artículo |
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1107-1114 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Artículo |
Tobajas, Félix ; Esper-Chaín Falcón, Roberto ; De Armas Sosa, Valentín ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2002 Localización: Globecom'02 [ISSN 1930-529X], v. 1-3, p. 1889-1893, (2002) Actas de congresos |
González, F.; Tubío, O.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1115-1122 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Actas de congresos |
González, F.; Tubío, O.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. , et al. Fecha de publicación: 2001 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 4591, p. 91-100 Artículo |
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. B. ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2001 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 4591, p. 221-230 Actas de congresos |
Sarmiento, R ; Tobajas, Félix ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, Roberto ; López Feliciano, José Francisco , et al. Fecha de publicación: 1998 Localización: Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (Vlsi) Systems[ISSN 1063-8210],v. 6 (1), p. 18-30 JCR: 0,733 - Q1 SCIE Artículo |
Sarmiento, R. ; Pulido, C.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chain, R. , et al. Fecha de publicación: 1998 Localización: Conference Record of the Asilomar Conference on Signals, Systems and Computers[ISSN 1058-6393],v. 2, p. 1527-1531 Actas de congresos |
Núñez Ordóñez, Antonio ; Sarmiento Rodríguez, Roberto ; Esper-Chaín Falcón, Roberto ; Jakobsen, J.; Montiel- Nelson, Juan A. , et al. Fecha de publicación: 1997 Localización: IEEE-CAS Region 8 Workshop on Analog and Mixed IC Design, Proceedings, p. 101-104, (Diciembre 1997) Actas de congresos |