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Sandoval González, Juan Domingo ; Delgado Morales, Keyla ; Fariña Santana, Esteban David ; de la Puente, Fernando ; Esper-Chaín Falcón, Roberto , et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: Applied Sciences (Switzerland) [EISSN 2076-3417], v. 12 (21), 11087, (Noviembre 2022) SJR: 0,507 - Q2 JCR: 2,7 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,5 Artículo |
Esper-Chaín Falcón, Roberto ; Escuela, A.M. ; Sendra Sendra, José Ramón ; Fariña Santana, D. Fecha de publicación: 2019 Localización: Optics and Laser Technology [ISSN 0030-3992], v. 109, p. 412-417 SJR: 0,792 - Q1 JCR: 3,233 - Q1 SCIE Artículo |
Esper-Chaín, Roberto ; Escuela, Alfonso Medina ; Fariña, David; Sendra, José Ramón Fecha de publicación: 2016 Localización: IEEE Sensors Journal[ISSN 1530-437X],v. 16 (7234874), p. 109-119 SJR: 0,706 - Q1 JCR: 2,512 - Q1 SCIE Artículo |
Del Castillo, Ignacio ; Tobajas, Félix ; Esper-Chaín, Roberto ; De Armas, Valentin Fecha de publicación: 2016 Localización: Vehicular Communications[ISSN 2214-2096],v. 3, p. 21-30 SJR: 0,992 - Q1 JCR: 5,108 - Q1 SCIE Artículo |
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. ; Tubío, O.; Arteaga, R.; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2005 Localización: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs[ISSN 1549-7747],v. 52, p. 5-9 SCIE Artículo |
Tobajas, F. ; Esper-Chaín, R. ; De Armas Sosa, Valentín ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2003 Localización: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 39, p. 580-581 SJR: 1,278 - Q1 JCR: 1,01 - Q2 SCIE Artículo |
Tubío, O.; Esper-Chaín, R. ; González, F.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1097-1105 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Artículo |
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1107-1114 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Artículo |
González, F.; Tubío, O.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. , et al. Fecha de publicación: 2001 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 4591, p. 91-100 Artículo |
Sarmiento, R ; Tobajas, Félix ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, Roberto ; López Feliciano, José Francisco , et al. Fecha de publicación: 1998 Localización: Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (Vlsi) Systems[ISSN 1063-8210],v. 6 (1), p. 18-30 JCR: 0,733 - Q1 SCIE Artículo |