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Feo García, José Juan ; Pulido Alonso, Antonio ; Florido-Betancor, A.; Florido Suárez, Néstor Rubén Fecha de publicación: 2024 Localización: Water (Switzerland) [ISSN 2073-4441], 16 (6), 910, p. 1-14 SJR: 0,716 - Q1 JCR: 3,4 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,6 Artículo |
Socorro Perdomo, Pedro Pablo ; Florido Suárez, Néstor Rubén ; Mirza Rosca, Julia Claudia ; Saceleanu, Mircea Vicentiu Fecha de publicación: 2022 Localización: Materials[EISSN 1996-1944],v. 15 (2), (Enero 2022) SJR: 1,631 - Q1 JCR: 5,5 - Q2 SCIE Artículo |
Florido Suárez, Néstor Rubén ; Hulka, Iosif ; Mirza Rosca, Julia Claudia ; Saceleanu, Adriana Fecha de publicación: 2022 Localización: Microscopy and Microanalysis [ISSN 1435-8115], v. 28 (Suppl. S1) SJR: 0,379 - Q3 JCR: 2,8 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Hulka, Iosif ; Florido Suárez, Néstor Rubén ; Mirza Rosca, Julia Claudia ; Saceleanu, Adriana Fecha de publicación: 2022 Localización: Materials [ISSN 1996-1944], v. 15 (11), 3813, (2022) SJR: 0,563 - Q2 JCR: 3,4 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,6 Artículo |
Hulka, Iosif ; Florido Suárez, Néstor Rubén ; Mirza Rosca, Julia Claudia ; Saceleanu, Adriana Fecha de publicación: 2022 Localización: Materials Chemistry and Physics [ISSN 0254-0584], v. 287, 126343, (Agosto 2022) SJR: 0,75 - Q1 JCR: 4,6 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Saceleanu, Adriana; Florido Suárez, Néstor R. ; Jimenez Marco, Cristina; Mirza Rosca, Julia Claudia Fecha de publicación: 2022 Localización: Microscopy and Microanalysis [ISSN 1435-8115], v. 28 (Suppl. S1) SJR: 0,379 - Q3 JCR: 2,8 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Socorro Perdomo, Pedro P.; Florido Suárez, Néstor Rubén ; Ionelia Vioculescu; Mirza Rosca, Julia Claudia Fecha de publicación: 2021 SJR: 0,379 - Q3 JCR: 4,099 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Vaswani Reboso, Jennifer ; Florido Suárez, Néstor R. ; Socorro-Perdomo, Pedro P. ; Mirza Rosca, Julia Fecha de publicación: 2021 Localización: Microscopy and Microanalysis [ISSN 1431-9276], v. 27(S1), p. 550 - 552 SJR: 0,379 - Q3 JCR: 4,099 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Florido Suárez, Néstor Rubén ; Socorro-Perdomo, Pedro P. ; Voiculescu, Ionelia; Mirza Rosca, Julia Claudia Fecha de publicación: 2021 Localización: Microscopy and Microanalysis [EISSN 1435-8115], 27(S1), 3386-3388 SJR: 0,379 - Q3 JCR: 4,099 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Florido Suárez, Néstor R. ; Socorro Perdomo, Pedro P. ; Mirza Rosea, Julia C. Fecha de publicación: 2021 SJR: 0,379 - Q3 JCR: 4,099 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Socorro Perdomo, Pedro Pablo ; Florido Suárez, Néstor Rubén ; Voiculescu, Ionelia; Mirza Rosca, Julia Claudia Fecha de publicación: 2021 Localización: Metals [EISSN 2075-4701], v. 11 (6), (Junio 2021) Artículo |
Baltatu, Madalina Simona; Vizureanu, Petrica; Sandu, Andrei Victor; Florido Suárez, Néstor Rubén ; Saceleanu, Mircea Vicentiu, et al. Fecha de publicación: 2021 Localización: Materials [ISSN 1996-1944], v. 14 (20), 5934 SJR: 0,604 - Q2 JCR: 3,748 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,6 Artículo |
Socorro Perdomo, Pedro P. ; Florido Suárez, Néstor R. ; Verdú-Vázquez, Amparo; Mirza Rosca, Julia C. Fecha de publicación: 2021 Localización: International Journal of Surface Science and Engineering [ISSN 1749-785X], v. 15 (2) (Julio 2021) SJR: 0,234 - Q3 JCR: 0,944 - Q4 SCIE MIAR ICDS: 10,6 Artículo |
Florido Suárez, Néstor R. ; Socorro-Perdomo, Pedro P. ; Geanta, Victor; Mirza Rosca, Julia Fecha de publicación: 2021 Localización: Microscopy and Microanalysis [ISSN 1431-9276], v. 27 (S1), p. 3270-3271 SJR: 0,379 - Q3 JCR: 4,099 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Stanciu, Elena-Manuela; Florido Suárez, Néstor Rubén ; Socorro Perdomo, Pedro Pablo ; Mirza Rosca, Julia Claudia Fecha de publicación: 2021 Localización: Microscopy and Microanalysis [ISSN 1431-9276], v. 27 (Supl. S1), p. 2388-2391 SJR: 0,379 - Q3 JCR: 4,099 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Angulo Rodríguez, Norberto ; Florido Suárez, Néstor R. ; Quintana Suárez, José Carmelo ; Pulido Alonso, Antonio ; Ling, Concepcion F. , et al. Fecha de publicación: 2010 Localización: Afinidad [ISSN 0001-9704], v. 67 (550), p. 429-435 JCR: 0,233 - Q4 SCIE Artículo |