Del Pino Suárez, Francisco Javier

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Tipo: póster de congresos

Título Año
Single-Event Effects Analysis Using TCAD and Circuit Domain Combined Simulations Mateos Angulo, Sergio; San Miguel Montesdeoca, Mario; Khemchandani, S. L. ; Del Pino, J. Fecha de publicación: 2017 Localización: Biannual European - Latin American Summer School on Design,Test and Reliability (Internacional). Rotterdam, The Netherlands Póster de congresos
Analysis of single event transients in conventional LNA topologies and radiation hardening approaches San Miguel Montesdeoca, Mario; Mateos Angulo, Sergio; Khemchandani, S. L. ; Del Pino, J. Fecha de publicación: 2017 Localización: Biannual European - Latin American Summer School on Design, Test and Reliability (Internacional). Rotterdam, The Netherlands Póster de congresos
Single-Event Effects Sensitivity Analysis of a 0.18um CMOS Low-Noise Amplifier Mateos Angulo, Sergio ; San-Miguel-Montesdeoca, M. ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; Del Pino, Javier Fecha de publicación: 2016 Localización: Design of Circuits and Integrated Systems Conference XXXI Póster de congresos