Cabrera Peña, José María ; León, Raquel ; Ortega, Samuel ; Fabelo, Himar ; Quevedo, Eduardo , et al Issued date: 2025 Source: Applied Sciences (Switzerland) [EISSN 2076-3417], v. 15 (3), (Febrero 2025) SJR: 0,508 - Q2 JCR: 2,5 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,5 Artículo
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