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Pulido Melián, E. ; González Díaz, O. ; Doña Rodríguez, J. M. ; Colón, G.; Araña, J. , et al. Fecha de publicación: 2009 Localización: Applied Catalysis A: General [ISSN 0926-860X], v. 364 (1-2), p. 174-181 JCR: 3,564 - Q1 SCIE Artículo
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Pulido Melián, Elisenda ; González Díaz, Oscar Manuel ; Doña Rodríguez, José Miguel ; Araña Mesa, Francisco Javier ; Herrera Melián, José Alberto , et al. Fecha de publicación: 2008 Localización: Journal Of Advanced Oxidation Technologies [ISSN 1203-8407], v. 11 (2), p. 283-291 JCR: 0,495 - Q4 Artículo
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Colón Ibáñez, Gerardo; Hidalgo, M. C.; Navío, J. A.; Pulido Melián, Elisenda ; González Díaz, Oscar Manuel , et al. Fecha de publicación: 2008 Localización: Applied Catalysis B: Environmental [ISSN 0926-3373], v. 83 (1-2), p. 30-38 JCR: 4,853 - Q1 SCIE Artículo
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Colon, G.; Hidalgo, M. C.; Pulido Melián, Elisenda ; González Díaz, Oscar Manuel ; Navío, J. A. , et al. Fecha de publicación: 2008 Localización: Applied Catalysis B: Environmental [ISSN 0926-3373], v. 78 (1-2), p. 176-182 JCR: 4,853 - Q1 SCIE Artículo
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Araña Mesa, Francisco Javier ; Pulido Melián, Elisenda ; Rodríguez López, V. M.; Peña Alonso, A.; Doña Rodríguez, José Miguel , et al. Fecha de publicación: 2007 Localización: Journal of Hazardous Materials [ISSN 0304-3894], v. 146 (3), p. 520-528 JCR: 2,337 - Q1 SCIE Artículo
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Araña Mesa, Francisco Javier ; Rodríguez López, V. M.; Pulido Melián, Elisenda ; Suárez Reyes, M. I.; Doña Rodríguez, José Miguel , et al. Fecha de publicación: 2007 Localización: Catalysis Today [ISSN 0920-5861], v. 129 (1-2), p. 177-184 JCR: 2,764 - Q1 SCIE Artículo
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Araña Mesa, Francisco Javier ; Tello Rendon, Erick Danilo ; Herrera Melián, José Alberto ; Pulido Melián, Elisenda ; González Díaz, Oscar Manuel , et al. Fecha de publicación: 2007 Localización: Catalysis Today [ISSN 0920-5861], v. 129 (1-2), p. 256-262, (Noviembre 2007) JCR: 2,764 - Q1 SCIE Artículo
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Doña, J. M. ; Garriga, C.; Araña, J. ; Pérez, J.; Colón, G., et al. Fecha de publicación: 2007 Localización: Research on Chemical Intermediates [ISSN 0922-6168], v. 33, p. 351-358 JCR: 0,647 - Q3 SCIE Reseña
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