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De Rivera, Manuel Rodríguez ; Socorro, Fabiola ; Matos López, José Santiago Fecha de publicación: 2009 Localización: International Journal of Molecular Sciences,v. 10, p. 2911-2920 JCR: 1,387 - Q2 SCIE Artículo
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García Rubiano, Jesús ; Rodríguez Santana, Ángel ; Sancho Díaz, Pedro; Marrero Díaz, María de los Angeles ; Trenzado Diepa, José Luis , et al. Fecha de publicación: 2008 Localización: Revista iberoamericana de física [ISSN 1888-2188], v. 4 (1), p. 53-56 Artículo
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Rodríguez de Rivera Rodríguez, Manuel ; Matos López, José Santiago; Socorro, F. Fecha de publicación: 2008 Localización: Journal Of Thermal Analysis And Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 92 (1), p. 79-82, (Abril 2008) JCR: 1,63 - Q3 SCIE Artículo
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Socorro, F. ; Mariano, A.; de Rivera, M. Rodriguez Fecha de publicación: 2008 Localización: Journal of thermal analysis and calorimetry [ISSN 1388-6150]. v. 92, n 1, p. 83-86 JCR: 1,63 - Q3 SCIE Artículo
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Rodríguez De Rivera, M. ; Socorro, F. Fecha de publicación: 2007 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 88, p. 745-750 JCR: 1,483 - Q3 SCIE Artículo
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De Rivera, M. Rodríguez ; Socorro, F. Fecha de publicación: 2007 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 87, p. 591-594 JCR: 1,483 - Q3 SCIE Artículo
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Socorro, F. ; Rodríguez De Rivera, M. Fecha de publicación: 2007 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 88, p. 741-744 JCR: 1,483 - Q3 SCIE Artículo
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Rodríguez de Rivera Rodríguez, Manuel ; Socorro Lorenzo, Fabiola Fecha de publicación: 2007 Localización: Journal of thermal analysis and calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 88 (3), p. 745-750 JCR: 1,483 - Q3 SCIE Artículo
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Socorro, F. ; De Rivera, M. Rodríguez Fecha de publicación: 2006 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 84, p. 285-289 JCR: 1,438 - Q2 SCIE Artículo
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De Rivera, M. Rodríguez ; Socorro, F. Fecha de publicación: 2006 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 85, p. 477-479 JCR: 1,438 - Q2 SCIE Actas de congresos
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Kirchner, R.; De Rivera, M. Rodriguez ; Seidel, J.; Torra, V. Fecha de publicación: 2005 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 82, p. 179-184 JCR: 1,425 - Q2 SCIE Actas de congresos
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De Rivera, M. Rodríguez ; Socorro, F. Fecha de publicación: 2005 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 80, p. 769-773 JCR: 1,425 - Q2 SCIE Artículo
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Socorro, F. ; De Rivera, M. R. Fecha de publicación: 2005 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 80, p. 763-767 JCR: 1,425 - Q2 SCIE Artículo
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Galván, Salvador ; Quintana Suárez, Miguel Ángel ; Macías López, Elsa María ; Suárez Sarmiento, Álvaro Fecha de publicación: 2005 Localización: Icwn '05: Proceedings of the 2005 International Conference on Wireless Networks / Ed. by: Laurence Tianruo Yang, Hamid R. Arabnia, Li-Chun Wang, p. 268-274 Actas de congresos
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López Sánchez, Mariana; Romano Mendoza, Esther Lidia ; Triana, Jorge Fecha de publicación: 2005 Libro
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Socorro, F. ; De La Nuez, I. ; Alvarez, L. ; Rodríguez De Rivera, M. Fecha de publicación: 2004 Localización: Thermochimica Acta [ISSN 0040-6031], v. 420, p. 163-167 JCR: 1,161 - Q3 SCIE Actas de congresos
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Socorro, F. ; De La Nuez, I. ; Rodríguez de Rivera, M. Fecha de publicación: 2003 Localización: Measurement [ISSN 0263-2241], v. 33, p. 241-250 JCR: 0,434 - Q3 SCIE Artículo
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Socorro, F. ; Rodríguez de Rivera, M. Fecha de publicación: 2003 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 72, p. 47-55 JCR: 1,094 - Q3 SCIE Artículo
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Romano, Esther ; Trenzado, José L. ; González Alfonso, Emilio ; Matos, S.; Segade, Luisa, et al. Fecha de publicación: 2003 Localización: Fluid Phase Equilibria [ISSN 0378-3812], v. 211, p. 219-240 JCR: 1,165 - Q1 SCIE Artículo
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Auguet, C.; Lerchner, J.; Marinelli, P.; Martorell, F.; Rodriguez de Rivera, M. , et al. Fecha de publicación: 2003 Localización: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry [ISSN 1388-6150], v. 71, p. 951-966 JCR: 1,094 - Q3 SCIE Reseña
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