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Ortega Sarmiento, Samuel ; Guerra Hernández, Raúl Celestino ; Díaz Martín, María ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; López Suárez, Sebastián , et al. Fecha de publicación: 2019 Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 7, p. 122473 - 122491 SJR: 0,775 - Q1 JCR: 3,745 - Q1 SCIE Artículo |
Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Ortega Sarmiento, Samuel ; Zbigniew Szolna,Adam ; Bulters, Diederik; Piñeiro, Juan F., et al. Fecha de publicación: 2019 Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 7, p. 39098 - 39116 SJR: 0,775 - Q1 JCR: 3,745 - Q1 SCIE Artículo |
Rodriguez, Alfonso; Santos, Lucana ; Sarmiento, Roberto ; Torre, Eduardo De La Fecha de publicación: 2019 Localización: IEEE Access[ISSN 2169-3536],v. 7, p. 10644-10652, (2019) SJR: 0,775 - Q1 JCR: 3,745 - Q1 SCIE Artículo |
Barrios Alfaro, Yubal ; Sánchez Clemente, Antonio José ; Santos, Lucana ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2020 Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536],v. 8, p. 54269-54287 SJR: 0,587 - Q1 JCR: 3,367 - Q2 SCIE Artículo |