Fernández-López, Pablo ; Garcia Baez, Patricio ; Cabrera-Leon, Ylermi ; Navarro-Mesa, Juan L. ; Suárez-Araujo, Carmen Paz Issued date: 2022 Source: IEEE Access[EISSN 2169-3536], (Enero 2022) SJR: 0,926 - Q1 JCR: 3,9 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,4 Artículo
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